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Instrumentos, máquinas y aparatos para medida o control, no expresados ni comprendidos en otra parte de este Capítulo; proyectores de perfiles
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  • Instrumentos, máquinas y aparatos para medida o control, no expresados ni comprendidos en otra parte de este Capítulo; proyectores de perfiles
  • Los demás instrumentos y aparatos, ópticos
  • Para control de obleas ("wafers") o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados), o para control de máscaras fotográficas o retículas utilizadas en la fabricación de dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)

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